元素分析
表面分析
太陽能/半導體
通用儀器耗材
用于加工的表面,薄膜,半導體,眼科,醫療設備,MEMS和摩擦學等領域的測量分析。
ContourGT-X是實驗室開發到批量生產均可適用的儀器。
ContourGT-I集多項檢測功能于一身,為桌上型定量測試儀器。
布魯克NPFLEX 三維表面測量系統為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案。
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